STM32串口高压测试下过载问题及处理方式

情景: 高压测试下,MCU因为串口接受方向数据过载,导致程序BUG,查找寄存器 ISR -> OER 标志为1.

处理方案一: 清除该标志位, 在中断服务函数 USART2_IRQHandler 中针对 这个标志位单独处理

__HAL_UART_GET_FLAG(&huart2, UART_FLAG_ORE);根据返回结果手动清除标志位

__HAL_UART_CLEAR_FLAG(&huart2, UART_CLEAR_OREF);或者__HAL_UART_CLEAR_OREFLAG(&huart2);

处理方案2:

查阅手册

直接禁止过载.

UART_HandleTypeDef huartNewInit;

HAL_UART_MspDeInit(&huart2);

huartNewInit = huart2;

huartNewInit.AdvancedInit.OverrunDisable = UART_ADVFEATURE_OVERRUN_DISABLE;

if(HAL_UART_Init(&huartNewInit)!=HAL_OK) Error_Handler();

OVRDIS 置位



高压测试 1ms上位机自动发送 串口接收后在回调函数中发出. 因为上位机发送数据长度超过接收缓冲区,丢失部分数据,程序运行稳定.

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